半導體控溫設備在冷源和熱源的溫度下進(jìn)行測試的工作，那么半導體控溫設備測量可重復性以及可復制性也是很重要的，這些在測試中需要注意什么呢？

　　半導體控溫設備測量可重復性和可復制性是用于評估測試設備對相同的測試對象反復測試而能夠得到重復讀值的能力的參數。也就是說(shuō)是用于描述測試設備的穩定性和一致性的一個(gè)指標。對于半導體測試設備，這一指標尤為重要。從數學(xué)角度來(lái)看，就是指實(shí)際測量的偏移度，測試工程師必須盡可能減少設備的固定值，過(guò)高的值表明測試設備或方法的不穩定性。

　　半導體控溫設備可復制性是說(shuō)同一個(gè)測試系統在不同操作員反復操作下得到一致的測試結果的能力。 當然，在現實(shí)世界里，沒(méi)有哪一臺測試設備可以反復獲得*一致的測試結果，通常會(huì )受到5個(gè)因素的影響：測試標準、測試方法、測試儀器、測試人員、環(huán)境因素 所有這些因素都會(huì )影響到每次測試的結果，測試結果的準確度只有在確保以上5個(gè)因素的影響控制到較小程度的情況下才能保證。

　　半導體控溫設備是需要用戶(hù)根據具體工況進(jìn)行型號選擇的，為了避免選型過(guò)大或者過(guò)小，建議還是聯(lián)系無(wú)錫冠亞專(zhuān)業(yè)技術(shù)人員進(jìn)行型號選擇比較好。（本文來(lái)源網(wǎng)絡(luò )，如有侵權請聯(lián)系無(wú)錫冠亞刪除，謝謝。）