對于半導體控溫廠(chǎng)家來(lái)說(shuō)，半導體控溫裝置的電氣測試是很重要的，那么，關(guān)于半導體控溫裝置的電氣裝置不了解的用戶(hù)需要仔細了解清楚的。

　　很多測試工程師都會(huì )發(fā)現半導體控溫裝置的結果往往都不能預見(jiàn)，即使是用*ATE也不能保證測試結果的正確性。很多情況下，必須對產(chǎn)品重新測試，浪費了大量時(shí)間。半導體控溫裝置電氣測試可信度簡(jiǎn)而言之就是衡量一個(gè)測試設備提供給使用者測試結果正確性的指標。一個(gè)電氣測試可信度很高的測試設備無(wú)需作重復的測試，從而節省大量寶貴的測試時(shí)間。 如果把一次測試下來(lái)的失效器件重測，其中有些可能會(huì )通過(guò)測試，原因在于原始的錯誤可能由測試設備造成的，而非器件本身。這樣的失效被稱(chēng)為“非正常失效”，測試可信度可以通過(guò)衡量這些“非正常失效”的數量來(lái)計算。

　　半導體控溫裝置電氣測試非正常失效產(chǎn)生有很多原因，可能是DUT和測試頭之間接觸不良、測試設備硬件問(wèn)題、不合理的硬件搭構 、金屬接觸面氧化或污染導致接觸失效、測試環(huán)境濕度過(guò)高、GR&R過(guò)高，其中一條是很多測試工程師面臨的普遍問(wèn)題，其原因有DUT引腳和接觸面沒(méi)有對齊、接觸器件老化、接觸器件氧化和污染、接觸面濕度太大。

　　對于使用半導體控溫廠(chǎng)家的控溫設備用戶(hù)來(lái)說(shuō)，在使用之前需要仔細了解其使用說(shuō)明，避免不當使用造成半導體控溫裝置故障。（本文來(lái)源網(wǎng)絡(luò )，如有侵權請聯(lián)系無(wú)錫冠亞刪除，謝謝。）