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    快速溫變控溫卡盤(pán) 射流式高低溫沖擊測試機

    簡(jiǎn)要描述:【無(wú)錫冠亞】半導體控溫解決方案主要產(chǎn)品包括半導體專(zhuān)?溫控設備、射流式?低溫沖擊測試機和半導體??藝廢?處理裝置等?設備,?泛應?于半導體、LED、LCD、太陽(yáng)能光伏等領(lǐng)域??焖贉刈兛販乜ūP(pán) 射流式高低溫沖擊測試機

    • 產(chǎn)品型號:LTS-202
    • 廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家
    • 更新時(shí)間:2024-01-11
    • 訪(fǎng)  問(wèn)  量:392
    詳情介紹
    品牌LNEYA/無(wú)錫冠亞冷卻方式水冷式
    價(jià)格區間10萬(wàn)-50萬(wàn)產(chǎn)地類(lèi)別國產(chǎn)
    儀器種類(lèi)一體式應用領(lǐng)域化工,生物產(chǎn)業(yè),電子,制藥,汽車(chē)



    無(wú)錫冠亞恒溫制冷技術(shù)有限公司的半導體控溫解決方案

    主要產(chǎn)品包括半導體專(zhuān)?溫控設備、射流式?低溫沖擊測試機和半導體??藝廢?處理裝置等?設備,

    ?泛應?于半導體、LED、LCD、太陽(yáng)能光伏等領(lǐng)域。




    【 冠亞制冷 】半導體行業(yè)主營(yíng)控溫產(chǎn)品:

    半導體專(zhuān)溫控設備

    射流式?低溫沖擊測試機

    半導體專(zhuān)用溫控設備chiller

    Chiller氣體降溫控溫系統

    Chiller直冷型

    循環(huán)風(fēng)控溫裝置

    半導體?低溫測試設備

    電?設備?溫低溫恒溫測試冷熱源

    射流式高低溫沖擊測試機

    快速溫變控溫卡盤(pán)

    數據中心液冷解決方案


    型號FLT-002FLT-003FLT-004FLT-006FLT-008FLT-010FLT-015
    FLT-002WFLT-003WFLT-004WFLT-006WFLT-008WFLT-010WFLT-015W
    溫度范圍5℃~40℃
    控溫精度±0.1℃
    流量控制  10~25L/min  5bar max15~45L/min  6bar max25~75L/min  6bar max
    制冷量at10℃6kw8kw10kw15 kw20kw25kw40kw
    內循環(huán)液容積4L5L6L8L10L12L20L
    膨脹罐容積10L10L15L15L20L25L35L
    制冷劑R410A
    載冷劑硅油、氟化液、乙二醇水溶液、DI等  (DI溫度需要控制10℃以上)
    進(jìn)出接口ZG1/2ZG1/2ZG3/4ZG3/4ZG3/4ZG1ZG1
    冷卻水口ZG1/2ZG1/2ZG3/4ZG1ZG1ZG1ZG1 1/8
    冷卻水流量at20℃1.5m3/h2m3/h2.5m3/h4m3/h4.5m3/h5.6m3/h9m3/h
    電源380V3.5kW4kW5.5kW7kW9.5kW12kW16kW
    溫度擴展通過(guò)增加電加熱器,擴展-25℃~80℃





    快速溫變控溫卡盤(pán) 射流式高低溫沖擊測試機

    快速溫變控溫卡盤(pán) 射流式高低溫沖擊測試機


    射流式高低溫沖擊測試機給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供精確且快速的環(huán)境溫度。

    是對產(chǎn)品電性能測試、失效分析、可靠性評估的儀器設備。

    溫度控制范圍:-120℃ 至+300℃,升降溫速率???焖?,150℃?-55℃<10秒,zui??流量:30m3/h;

    實(shí)時(shí)監控被測IC真實(shí)溫度,實(shí)現閉環(huán)反饋,實(shí)時(shí)調整?體溫度升降溫時(shí)間可控,程序化操作、?動(dòng)操作、遠程控制


      半導體芯片高低溫測試機是用于模擬不同溫度環(huán)境下的半導體芯片性能測試,在使用半導體芯片高低溫測試機時(shí),有一些注意事項需要遵守,以確保測試結果的準確性和設備的安全使用。

      1、設備放置

      半導體芯片高低溫測試機應該放置在溫度穩定、無(wú)強烈震動(dòng)和無(wú)腐蝕性氣體的環(huán)境中。此外,為了方便操作和維護,還應該將設備放置在易于訪(fǎng)問(wèn)的位置。

      2、設備電源

      半導體芯片高低溫測試機應該使用要求的電源插座,并確保電源電壓穩定,以避免對設備造成損壞。半導體芯片高低溫測試機在測試過(guò)程中,應該保持電源線(xiàn)的暢通,避免受到擠壓或彎曲。

      3、設備操作

      在進(jìn)行測試之前,應該先檢查半導體芯片高低溫測試機的外觀(guān)和功能是否正常。在測試過(guò)程中,應該按照設備的操作指南進(jìn)行操作,并注意不要在設備周?chē)胖秒s物,以免干擾設備的正常運行。

      4、設備維護

      半導體芯片高低溫測試機應該定期進(jìn)行維護保養,包括清潔設備表面、檢查半導體芯片高低溫測試機的連接是否緊固、檢查設備的運行狀態(tài)等。在維護過(guò)程中,應該遵循半導體芯片高低溫測試機的維護指南,以確保設備的正常運行和使用壽命。


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