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元器件高低溫測試裝置在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度（-85℃至+ 250℃）下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試模擬。半導體水冷機chiller unit產(chǎn)品說(shuō)明

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無(wú)錫冠亞射流式高低溫沖擊測試機給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供快速的環(huán)境溫度。是對產(chǎn)品電性能測試、失效分析、可靠性評估*的儀器設備。廣泛應用于半導體企業(yè)、航空航天、光通訊、高校、研究所等領(lǐng)域?？焖贉囟妊h(huán)試驗箱的使用安全須知

無(wú)錫冠亞射流式高低溫沖擊測試機給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供快速的環(huán)境溫度。是對產(chǎn)品電性能測試、失效分析、可靠性評估*的儀器設備。廣泛應用于半導體企業(yè)、航空航天、光通訊、高校、研究所等領(lǐng)域。小型快速溫度變化試驗箱的選購要點(diǎn)

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