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    關(guān)于芯片測試裝置相關(guān)測試說(shuō)明

     更新時(shí)間:2019-04-04 點(diǎn)擊量:630

      芯片測試裝置在運行前需要了解其相關(guān)測試知識,那么,關(guān)于無(wú)錫冠亞芯片測試裝置的相關(guān)測試大家了解多少呢?

    芯片測試裝置

      芯片測試裝置電位器的好壞判別,先測電位器的標稱(chēng)阻值。用萬(wàn)用表的歐姆擋測“1”、“3”兩端(設“2”端為活動(dòng)觸點(diǎn)),其讀數應為電位器的標稱(chēng)值,如萬(wàn)用表的指針不動(dòng)、阻值不動(dòng)或阻值相差很多,則表明該電位器已損壞。再檢查電位器的活動(dòng)臂與電阻片的接觸是否良好。用萬(wàn)用表的歐姆擋測“1”、“2”或“2”、“3”兩端,將電位器的轉軸按逆時(shí)針?lè )较蛐两咏?ldquo;關(guān)”的位置,此時(shí)電阻應越小越好,再徐徐順時(shí)鐘旋轉軸柄,電阻應逐漸增大,旋至上端位置時(shí),阻值應接近電位器的標稱(chēng)值。

      測量大容量電容的漏電電阻,用500型萬(wàn)用表置于R×10R×100擋,待指針指向較大值時(shí),再立即改用R×1k擋測量,指針會(huì )在較短時(shí)間內穩定,從而讀出漏電電阻阻值。

      判別紅外接收頭引腳,萬(wàn)用表置R×1k擋,先假設接收頭的某腳為接地端,將其與黑表筆相接,用紅表筆分別測量另兩腳電阻,對比兩次所測阻值(一般在47k Q范圍),電阻較小的一次其紅表筆所接為+5V電源引腳,另一阻值較大的則為信號引腳。反之,若用紅表筆接已知地腳,黑表筆分別測已知電源腳及信號腳,則阻值都在15kΩ以上,阻值小的引腳為+5V端,阻值偏大的引腳為信號端。如果測量結果符合上述阻值則可判斷該接收頭完好。

      判斷無(wú)符號電解電容性,先將電容短路放電,再將兩引線(xiàn)做好A、B標記,萬(wàn)用表置R×100R×1k擋,黑表筆接A引線(xiàn),紅表筆接B引線(xiàn),待指針靜止不動(dòng)后讀數,測完后短路放電;再將黑表筆接B引線(xiàn),紅表筆接A引線(xiàn),比較兩次讀數,阻值較大的一次黑表筆所接為正,紅表筆所接為負。

      芯片測試裝置在了解其相關(guān)測試之后,在運行中多多注意其保養工作,更好的運行芯片測試裝置。(本文來(lái)源網(wǎng)絡(luò ),如有侵權請聯(lián)系無(wú)錫冠亞刪除,謝謝。)