元器件測試用溫控設備是用于各大元器件中，元器件測試如果不到位的話(huà)就會(huì )導致元器件的性能發(fā)生變化，那么，元器件測試用溫控設備檢測技巧你就很有必要知道的。

　　元器件測試用溫控設備測整流電橋各腳的性，可用萬(wàn)用表置R×1k擋，黑表筆接橋堆的任意引腳，紅表筆先后測其余三只腳，如果讀數均為比較大，則黑表筆所接為橋堆的輸出正，如果讀數為4～10kΩ，則黑表筆所接引腳為橋堆的輸出負，其余的兩引腳為橋堆的交流輸入端。使用數字萬(wàn)用表時(shí)只需將檔位打到蜂鳴檔，然后按上述方法測看是否導通（如果導通會(huì )顯示幾百的壓降，若不導通則顯示1）。

　　判斷晶振的好壞先用萬(wàn)用表(R×10k擋)測晶振兩端的電阻值，若為比較大，說(shuō)明晶振無(wú)短路或漏電；再將試電筆插入市電插孔內，用手指捏住晶振的任一引腳，將另一引腳碰觸試電筆上端的金屬部分，若試電筆氖泡發(fā)紅，說(shuō)明晶振是好的；若氖泡不亮，則說(shuō)明晶振損壞。

　　單向晶閘管檢測可用萬(wàn)用表的R×1k或R×100擋測量任意兩之問(wèn)的正、反向電阻，如果找到一對的電阻為低阻值(100Ω～lkΩ)，則此時(shí)黑表筆所接的為控制，紅表筆所接為陰，另一個(gè)為陽(yáng)。檢查發(fā)光數碼管的好壞先將萬(wàn)用表置R×10k或R×l00k擋，然后將紅表筆與數碼管(以共陰數碼管為例)的“地”引出端相連，黑表筆依次接數碼管其他引出端，七段均應分別發(fā)光，否則說(shuō)明數碼管損壞。

　　元器件測試用溫控設備的檢測技巧如上所示，用戶(hù)在運行前不妨了解清楚其相應的測試技巧再進(jìn)行運行操作。（本文來(lái)源網(wǎng)絡(luò )，如有侵權請聯(lián)系無(wú)錫冠亞刪除，謝謝。）