無(wú)錫芯片測試企業(yè)是專(zhuān)業(yè)測試各種元器件、半導體、芯片的，那么，其中的晶圓測試是怎么進(jìn)行的呢？

　　無(wú)錫芯片測試企業(yè)的晶圓測試和老化指對半導體器件在未包裝之前進(jìn)行電氣測試和老化。老化是指通過(guò)加壓加熱對半導體器件進(jìn)行老化從而分辨可靠性較差的器件。晶圓測試和老化通常要使用晶圓探針臺以連接晶圓上細小的引腳，而探針臺也提供了測試和老化所需要的溫度。晶圓測試和老化不僅可以提供早期測試，也適用于器件晶元封裝器件理想的情況就是所有的測試都能在晶圓完成，這樣就不需要測試，可以節省大量成本。不過(guò)，目前的晶圓測試和老化只不過(guò)是傳統晶圓制造的后端延伸。

　　晶圓測試和老化基本的原理和普通的半導體器件終測沒(méi)什么區別，都是通過(guò)對DUT加激勵并觀(guān)察其輸出功能來(lái)判別器件的好壞，區別在于如何對器件進(jìn)行激勵。在終測時(shí)，電流和電壓是通過(guò)ATE連接器件引腳而進(jìn)入器件內部。在老化時(shí)，器件被放置于烤箱中并由老化板提供所需的電壓電流。而在晶圓測試和老化中，電流和電壓是通過(guò)器件接觸腳直接輸入到電路內部。

　　無(wú)錫芯片測試企業(yè)是比較多的，當然，不同無(wú)錫芯片測試企業(yè)帶來(lái)的芯片測試、晶圓測試都是有所區別的，所以，需要晶圓測試的用戶(hù)在選擇的時(shí)候還是需要根據參數來(lái)進(jìn)行購買(mǎi)。（本文來(lái)源網(wǎng)絡(luò )，如有侵權，請聯(lián)系刪除，謝謝。）