芯片測試器件在對各種芯片測試的過(guò)程中，需要對其可重復性和可復制性進(jìn)行測試，那么，無(wú)錫冠亞的芯片測試器件在測試的時(shí)候怎么運行的呢？需要注意什么呢？

　　在運行芯片測試器件的時(shí)候，測試標準、測試方法、測試儀器、測試人員、環(huán)境因素都是能夠影響芯片測試器件的測量結果，芯片測試器件的穩定性和一致性的一個(gè)指標。對于半導體測試設備，這一指標尤為重要，可重復性指的是相同測試設備在同一個(gè)操作員操作下反復得到一致的測試結果的能力?？蓮椭菩允钦f(shuō)同一個(gè)測試系統在不同操作員反復操作下得到一致的測試結果的能力。所有這些因素都會(huì )影響到每次測試的結果，測試結果的精度只有在確保以上5個(gè)因素的影響控制到較小程度的情況下才能保證。

　　芯片的電氣測試可信度簡(jiǎn)而言之就是衡量一個(gè)芯片測試器件提供給使用者測試結果正確性的指標。一個(gè)電氣測試可信度很高的測試設備無(wú)需作重復的retest，從而節省大量寶貴的測試時(shí)間。如果把一次測試下來(lái)的失效器件重測，其中有些可能會(huì )通過(guò)測試，原因在于原始的錯誤可能由測試設備造成的，而非器件本身。這樣的失效被稱(chēng)為“非正常失效”，測試可信度可以通過(guò)衡量這些“非正常失效”的數量來(lái)計算。由此可見(jiàn)，芯片電氣測試可信度很大程度上依賴(lài)于電氣接觸可靠性。具體的說(shuō)，就是電氣測試中各部件正確良好接觸的幾率。90%的電氣測試可信度就表示平均100個(gè)被測器件中有90個(gè)獲得良好接觸而其他10個(gè)則遇到了電氣接觸問(wèn)題。

　　外在的因素對于芯片測試器件的影響也是比較大的，所以，無(wú)錫冠亞芯片測試器件在性能以及參數方面更加平穩，運行更加靠譜。（內容來(lái)源網(wǎng)絡(luò )，如有侵權，請聯(lián)系刪除。）