基于半導體芯片行業(yè)的不斷發(fā)展，無(wú)錫冠亞射頻芯片高低溫自動(dòng)測試機也推廣向消費者，那么，對于射頻芯片高低溫自動(dòng)測試機系統大家有什么了解呢？

　　射頻芯片高低溫自動(dòng)測試機作為冷源，在技術(shù)應用上結構簡(jiǎn)單，整個(gè)射頻芯片高低溫自動(dòng)測試機由熱點(diǎn)堆和導線(xiàn)組成，噪聲少，磨損少，壽命長(cháng)，可靠性高，制冷溫度和冷卻速度可以通過(guò)工作電流來(lái)控制，控制靈活，啟動(dòng)快。

　　由于溫度控制電路要求驅動(dòng)TEC的電流是雙向的，我們選擇應用TEC的開(kāi)關(guān)式H橋功率驅動(dòng)電路，則流經(jīng)TEC的電流方向從右向左。當半導體激光器的工作溫度低于設定的溫度點(diǎn)時(shí)，H橋按TEC制熱的方向以一定的幅值輸出電流；當半導體激光器的工作溫度高于設定的溫度點(diǎn)時(shí)，H橋會(huì )減少TEC的電流甚至反轉TEC的電流方向來(lái)降低半導體激光器的溫度。當控制環(huán)路達到平衡時(shí)，TEC電流的方向和幅值就調整好了，此時(shí)半導體激光器的工作溫度等于設定的溫度。

　　射頻芯片高低溫自動(dòng)測試機電路在接收到控制信號以后，控制TEC的工作時(shí)間，通過(guò)控制TEC的工作電流的大小來(lái)控制它的功率，從而控制它對激光器的制冷效果，保證激光器工作在穩定狀態(tài)。在系統設計實(shí)現時(shí)，因為熱敏電阻和制冷器已經(jīng)和激光器固定在模塊中，模塊給出了相應的管腳。

　　射頻芯片高低溫自動(dòng)測試機整流輸出部分采用的總體方案是PWM脈寬調制，利用脈寬調制技術(shù)控制開(kāi)關(guān)電路導通時(shí)間，從而改變系統控制部分的平均電流，改變半導體制冷器的功率，實(shí)現溫度控制，PWM脈寬調制器利用AT89C2051實(shí)現。將溫度探測電路送來(lái)的信號送入PWM脈寬調制器，經(jīng)過(guò)和預先設定好的溫度值進(jìn)行比較、運算，調整輸出脈寬，加到一個(gè)開(kāi)關(guān)器件上，通過(guò)控制其導通時(shí)間、輸出平均電壓，從而改變電流。

　　射頻芯片高低溫自動(dòng)測試機PID控制中，kp、TI和TD這3個(gè)參數的確定對實(shí)現高精度控制至關(guān)重要，在溫度控制過(guò)程中，由于NTC和TEC等器件具有熱慣性，在半導體激光器的溫度控制過(guò)程中，可以將溫度控制部分作為一階慣性加純延遲環(huán)節建立數學(xué)模型。

　　射頻芯片高低溫自動(dòng)測試機溫度控制方案，保持溫度在-45℃到250℃，控制進(jìn)出口溫度，更有效的測試半導體芯片效果。

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