半導體芯片高低溫測試裝置在半導體芯片測試中使用比較多，那么，半導體芯片高低溫測試在運行中其有什么特點(diǎn)呢？

　　激光器工作時(shí)，自身產(chǎn)生熱量，使激光器的溫度升高，根據半導體激光器的工作特性，波長(cháng)會(huì )隨溫度改變發(fā)生漂移，使激光器發(fā)射功率發(fā)生改變，造成整個(gè)發(fā)射系統的不穩定，甚至使發(fā)射系統不能工作?？煽厥桨雽w激光器工作時(shí)，激光器會(huì )提供熱敏電阻溫度測量信號，然后利用PWM脈寬調制技術(shù)實(shí)現激光器溫度控制。激光器溫度相對于電流和輸出功率成比例地變化。溫度探測電路采用熱敏電阻進(jìn)行溫度采集，半導體芯片高低溫測試系統控制采用制冷加熱控溫技術(shù)、PID溫度補償、半導體制冷器作為控制終端來(lái)控制激光器溫度。

　　半導體芯片高低溫測試溫度檢測控制電路設計，激光器溫度檢測電路主要完成對激光器溫度的采集，將采集溫度的模擬量轉換為數字量，并對采集的數據進(jìn)行存儲和處理。當前，12位以上的A/D轉換器的價(jià)格仍較昂貴，用V/F變換器來(lái)代替A/D轉換器，在要求速度不太高的場(chǎng)合是一種較好的選擇。從傳感器來(lái)的毫伏的電壓信號經(jīng)低溫漂運算放大器OP07放大到0～10V后加到V/F變換器LM331的輸入端，從頻率輸出端f0輸出的頻率信號加到單片機89C2051的輸入端T0上。根據分辨率的要求利用軟件處理，得到A/D轉換的結果。

　　半導體芯片高低溫測試是用兩種不同半導體材料(P型和N型)組成P2N結，當P2N結中有直流電通過(guò)時(shí)，由于兩種材料中的電子和空穴在跨越P2N結移動(dòng)過(guò)程中的熱效應(即帕爾帖效應)，就會(huì )使P2N結表現出制冷或制熱的效果，改變電流方向即可實(shí)現TEC的制冷或制熱，調節電流大小即可控制制冷量輸出。

　　半導體芯片高低溫測試是針對不同半導體材料進(jìn)行高低溫測試的過(guò)程，可調節流量大小，提供相應測試結果。（注：本來(lái)部分內容來(lái)百度學(xué)術(shù)相關(guān)論文，如果侵權請及時(shí)聯(lián)系我們進(jìn)行刪除，謝謝。）