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    流體控溫裝置芯片測試電路設計

     更新時(shí)間:2019-02-19 點(diǎn)擊量:808

      隨著(zhù)國內芯片行業(yè)的不斷發(fā)展,無(wú)錫冠亞流體控溫裝置不斷得到應用,為此,針對流體控溫裝置芯片測試的電路設計,流體控溫裝置廠(chǎng)家需要了解清楚,才能更好的生產(chǎn)銷(xiāo)售流體控溫裝置。

      AM-OLED顯示驅動(dòng)芯片是AM-OLED平板顯示屏的關(guān)重件,具有重要經(jīng)濟價(jià)值,顯示驅動(dòng)芯片內部集成了行列驅動(dòng)電路、圖像SRAM、電荷泵、LDO、伽馬校正和多種輸入輸出接口。內置圖像SRAM可支持到WVGA分辨率,可顯示16.77兆色的顯示屏;片內的低功耗電源管理技術(shù)增強了手持設備的電池續航能力。該芯片具有高集成度、低成本、低功耗的特點(diǎn),可運用于中小尺寸AM-OLED顯示屏模塊,包括智能手機、數碼相機等電子產(chǎn)品。 因此,流體控溫裝置針對AM-OLED驅動(dòng)控制芯片的測試需求,并結合該芯片的多功能模塊結構特點(diǎn),提出了一種AM-OLED驅動(dòng)芯片的測試電路設計方案。

      AM-OLED驅動(dòng)控制芯片電源模塊由三個(gè)電荷泵、兩個(gè)LDO以及一個(gè)上電檢測電源組成,用來(lái)向伽馬校正、行驅動(dòng)、列驅動(dòng)以及SRAM模塊提供所需要的驅動(dòng)電壓。內置SRAM用來(lái)存儲需要顯示的圖像數據。OSC振蕩器主要是作為片內時(shí)鐘源,可以通過(guò)倍頻、分頻、調整占空比等方式,結合各需求模塊的具體需求,產(chǎn)生高精度的時(shí)鐘頻率。數字控制模塊由Command decoderTCON模塊組成,主要實(shí)現不同分辨率顯示,不同顯示模式顯示,低功耗模式控制,不同控制和數據接口兼容,行列驅動(dòng)電路控制以及伽馬校正,接口譯碼功能。使各模塊能協(xié)調按序工作。

      針對以上驅動(dòng)芯片,需要對他的各項功能模塊和整體性能進(jìn)行有指標的測試,常用測試項目有電源模塊測試,測定芯片內基準、電荷泵、LDO等電源的電壓、電流指標要求。聯(lián)動(dòng)測試,包括上電,啟動(dòng)復位、省電、睡眠等各模式之間的切換。動(dòng)態(tài)電流和平均電流測試,用于統計芯片的平均功耗和瞬時(shí)功耗。列驅動(dòng)Source Driver輸出固定電平測試、建立時(shí)間、DNL、INL、DVO測試。通過(guò)SPI口對集成在芯片內的SRAM進(jìn)行測試,測試基本的存儲功能是否正確。伽馬電路測試,需要分步進(jìn)行,先對其內部各個(gè)模擬電路進(jìn)行測試,確定參考電壓產(chǎn)生是否正確,然后再和列驅動(dòng)連接進(jìn)行聯(lián)合測試。比對顯示效果,可調整電壓誤差范圍。 數字控制模塊的測試,主要在接口之間的兼容,可在線(xiàn)調試,寄存器可配等特點(diǎn)來(lái)提高芯片的可測試性。

    流體控溫裝置的芯片電路設計不同廠(chǎng)家有著(zhù)不同的特點(diǎn),流體控溫裝置專(zhuān)業(yè)廠(chǎng)家應對此能夠集中分析測試,更好的進(jìn)行芯片測試。

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