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簡(jiǎn)要描述：【無(wú)錫冠亞】半導體控溫解決方案主要產(chǎn)品包括半導體專(zhuān)?溫控設備、射流式?低溫沖擊測試機和半導體??藝廢?處理裝置等?設備，?泛應?于半導體、LED、LCD、太陽(yáng)能光伏等領(lǐng)域。-65℃~125℃循環(huán)風(fēng)控溫裝置 FLT系列Chiller
產(chǎn)品型號：LTS-202廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家更新時(shí)間：2024-01-11訪(fǎng) 問(wèn) 量：396| 品牌 | LNEYA/無(wú)錫冠亞 | 冷卻方式 | 水冷式 |
|---|---|---|---|
| 價(jià)格區間 | 10萬(wàn)-50萬(wàn) | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國產(chǎn) |
| 儀器種類(lèi) | 一體式 | 應用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),電子,制藥,汽車(chē) |
主要產(chǎn)品包括半導體專(zhuān)?溫控設備、射流式?低溫沖擊測試機和半導體??藝廢?處理裝置等?設備，
?泛應?于半導體、LED、LCD、太陽(yáng)能光伏等領(lǐng)域。
半導體專(zhuān)溫控設備
射流式?低溫沖擊測試機
半導體專(zhuān)用溫控設備chiller
Chiller氣體降溫控溫系統
Chiller直冷型
循環(huán)風(fēng)控溫裝置
半導體?低溫測試設備
電?設備?溫低溫恒溫測試冷熱源
射流式高低溫沖擊測試機
快速溫變控溫卡盤(pán)
數據中心液冷解決方案
| 型號 | FLT-002 | FLT-003 | FLT-004 | FLT-006 | FLT-008 | FLT-010 | FLT-015 |
| FLT-002W | FLT-003W | FLT-004W | FLT-006W | FLT-008W | FLT-010W | FLT-015W | |
| 溫度范圍 | 5℃～40℃ | ||||||
| 控溫精度 | ±0.1℃ | ||||||
| 流量控制 | 10～25L/min 5bar max | 15～45L/min 6bar max | 25～75L/min 6bar max | ||||
| 制冷量at10℃ | 6kw | 8kw | 10kw | 15 kw | 20kw | 25kw | 40kw |
| 內循環(huán)液容積 | 4L | 5L | 6L | 8L | 10L | 12L | 20L |
| 膨脹罐容積 | 10L | 10L | 15L | 15L | 20L | 25L | 35L |
| 制冷劑 | R410A | ||||||
| 載冷劑 | 硅油、氟化液、乙二醇水溶液、DI等 （DI溫度需要控制10℃以上） | ||||||
| 進(jìn)出接口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 |
| 冷卻水口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 | ZG1 | ZG1 1/8 |
| 冷卻水流量at20℃ | 1.5m3/h | 2m3/h | 2.5m3/h | 4m3/h | 4.5m3/h | 5.6m3/h | 9m3/h |
| 電源380V | 3.5kW | 4kW | 5.5kW | 7kW | 9.5kW | 12kW | 16kW |
| 溫度擴展 | 通過(guò)增加電加熱器，擴展-25℃～80℃ | ||||||
-65℃~125℃循環(huán)風(fēng)控溫裝置 FLT系列Chiller
-65℃~125℃循環(huán)風(fēng)控溫裝置 FLT系列Chiller
射流式高低溫沖擊測試機給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供精確且快速的環(huán)境溫度。
是對產(chǎn)品電性能測試、失效分析、可靠性評估的儀器設備。
溫度控制范圍：-120℃ 至+300℃，升降溫速率??？焖?，150℃?-55℃＜10秒，zui??流量：30m3/h；
實(shí)時(shí)監控被測IC真實(shí)溫度,實(shí)現閉環(huán)反饋，實(shí)時(shí)調整?體溫度升降溫時(shí)間可控，程序化操作、?動(dòng)操作、遠程控制
冷熱循環(huán)沖擊測試機是用于測試集成電路在不同溫度下的性能和穩定性的設備，在選購冷熱循環(huán)沖擊測試機時(shí)，需要考慮以下幾個(gè)方面：
1、測試溫度范圍：根據需要測試的集成電路的類(lèi)型和規格，確定所需的測試溫度范圍。一般來(lái)說(shuō)，冷熱循環(huán)沖擊測試機的溫度范圍應該在-120℃到200℃之間，以滿(mǎn)足大多數半導體的測試需求。
2、溫度穩定性：溫度穩定性是測試系統的重要指標之一。冷熱循環(huán)沖擊測試機的溫度穩定性應該足夠高，以保證測試結果的準確性和可靠性。一般來(lái)說(shuō)，溫度波動(dòng)范圍應該在±1℃以?xún)取?/span>
3、測試速度：測試速度也是需要考慮的因素之一。冷熱循環(huán)沖擊測試機的測試速度應該足夠快，以減少測試時(shí)間和提升效率。一般來(lái)說(shuō)，冷熱循環(huán)沖擊測試機測試速度應該在每小時(shí)測試數百個(gè)樣品以上。
4、測試精度：冷熱循環(huán)沖擊測試機的測試精度應該足夠高，以保證測試結果的準確性和可靠性。一般來(lái)說(shuō)，測試誤差應該在±1℃以?xún)取?/span>
5、售后服務(wù)：在選購冷熱循環(huán)沖擊測試機時(shí)，需要考慮系統的品牌和售后服務(wù)。一般來(lái)說(shuō)，品牌的系統質(zhì)量和售后服務(wù)較好，但價(jià)格也會(huì )相應較高。因此，需要根據實(shí)際情況進(jìn)行權衡。
6、預算：冷熱循環(huán)沖擊測試機的價(jià)格因品牌、性能和質(zhì)量等因素而異，需要根據實(shí)際需求和預算進(jìn)行選擇。
綜上所述，選購冷熱循環(huán)沖擊測試機需要考慮多個(gè)因素，包括測試溫度范圍、溫度穩定性、測試速度、測試精度、系統品牌和售后服務(wù)以及預算等。需要根據實(shí)際需求和預算進(jìn)行綜合權衡，選擇適合自己需要的測試系統。
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