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簡(jiǎn)要描述：【無(wú)錫冠亞】半導體控溫解決方案主要產(chǎn)品包括半導體專(zhuān)?溫控設備、射流式?低溫沖擊測試機和半導體??藝廢?處理裝置等?設備，?泛應?于半導體、LED、LCD、太陽(yáng)能光伏等領(lǐng)域。直冷型制冷-40℃ Chiller 半導體?溫控設備
產(chǎn)品型號：LTS-202廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家更新時(shí)間：2024-01-11訪(fǎng) 問(wèn) 量：286| 品牌 | LNEYA/無(wú)錫冠亞 | 冷卻方式 | 水冷式 |
|---|---|---|---|
| 價(jià)格區間 | 10萬(wàn)-50萬(wàn) | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國產(chǎn) |
| 儀器種類(lèi) | 一體式 | 應用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),電子,制藥,汽車(chē) |
主要產(chǎn)品包括半導體專(zhuān)?溫控設備、射流式?低溫沖擊測試機和半導體??藝廢?處理裝置等?設備，
?泛應?于半導體、LED、LCD、太陽(yáng)能光伏等領(lǐng)域。
半導體專(zhuān)溫控設備
射流式?低溫沖擊測試機
半導體專(zhuān)用溫控設備chiller
Chiller氣體降溫控溫系統
Chiller直冷型
循環(huán)風(fēng)控溫裝置
半導體?低溫測試設備
電?設備?溫低溫恒溫測試冷熱源
射流式高低溫沖擊測試機
快速溫變控溫卡盤(pán)
數據中心液冷解決方案
| 型號 | FLT-002 | FLT-003 | FLT-004 | FLT-006 | FLT-008 | FLT-010 | FLT-015 |
| FLT-002W | FLT-003W | FLT-004W | FLT-006W | FLT-008W | FLT-010W | FLT-015W | |
| 溫度范圍 | 5℃～40℃ | ||||||
| 控溫精度 | ±0.1℃ | ||||||
| 流量控制 | 10～25L/min 5bar max | 15～45L/min 6bar max | 25～75L/min 6bar max | ||||
| 制冷量at10℃ | 6kw | 8kw | 10kw | 15 kw | 20kw | 25kw | 40kw |
| 內循環(huán)液容積 | 4L | 5L | 6L | 8L | 10L | 12L | 20L |
| 膨脹罐容積 | 10L | 10L | 15L | 15L | 20L | 25L | 35L |
| 制冷劑 | R410A | ||||||
| 載冷劑 | 硅油、氟化液、乙二醇水溶液、DI等 （DI溫度需要控制10℃以上） | ||||||
| 進(jìn)出接口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 |
| 冷卻水口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 | ZG1 | ZG1 1/8 |
| 冷卻水流量at20℃ | 1.5m3/h | 2m3/h | 2.5m3/h | 4m3/h | 4.5m3/h | 5.6m3/h | 9m3/h |
| 電源380V | 3.5kW | 4kW | 5.5kW | 7kW | 9.5kW | 12kW | 16kW |
| 溫度擴展 | 通過(guò)增加電加熱器，擴展-25℃～80℃ | ||||||
直冷型制冷-40℃ Chiller 半導體?溫控設備
直冷型制冷-40℃ Chiller 半導體?溫控設備
射流式高低溫沖擊測試機給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供精確且快速的環(huán)境溫度。
是對產(chǎn)品電性能測試、失效分析、可靠性評估的儀器設備。
溫度控制范圍：-120℃ 至+300℃，升降溫速率??？焖?，150℃?-55℃＜10秒，zui??流量：30m3/h；
實(shí)時(shí)監控被測IC真實(shí)溫度,實(shí)現閉環(huán)反饋，實(shí)時(shí)調整?體溫度升降溫時(shí)間可控，程序化操作、?動(dòng)操作、遠程控制
測試條件：環(huán)境溫度20℃，30m3/h，5Bar,壓縮空?或氮?可定制100m3/h?體流量快速沖擊測試機，?于滿(mǎn)?較?測試功率需求
沖擊系統快速溫變測試機是一種用于測試半導體器件在不同溫度下的性能表現，這種測試機通常被廣泛應用于半導體行業(yè)的生產(chǎn)、研發(fā)和品質(zhì)控制等領(lǐng)域。
一、沖擊系統快速溫變測試機的應用
1、生產(chǎn)控制
在半導體生產(chǎn)過(guò)程中，需要對半導體器件進(jìn)行嚴格的測試，以確保其性能符合要求。沖擊系統快速溫變測試機可以模擬不同溫度環(huán)境，從而對生產(chǎn)出的半導體器件進(jìn)行性能檢測。
2、研發(fā)實(shí)驗
在研發(fā)階段，沖擊系統快速溫變測試機可以幫助科研人員在不同溫度環(huán)境下研究半導體的性能表現，進(jìn)一步探索半導體的物理特性和應用潛力。
3、品質(zhì)控制
在品質(zhì)控制環(huán)節，沖擊系統快速溫變測試機通過(guò)對半導體器件進(jìn)行嚴格的質(zhì)量檢測，確保產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。
二、沖擊系統快速溫變測試機的優(yōu)勢
1、溫度范圍廣
沖擊系統快速溫變測試機可以模擬從低溫度到高溫度的環(huán)境，為半導體器件的性能測試提供了廣闊的溫度范圍。
2、測試精度高
沖擊系統快速溫變測試機具有高精度的溫度控制和測試系統，能夠準確記錄和評估半導體器件在不同溫度下的性能數據。
3、應用范圍廣
沖擊系統快速溫變測試機不僅適用于半導體器件的性能測試，還可以應用于其他材料和元器件的性能檢測。
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