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    半導(dǎo)體高低溫測試設(shè)備

    簡要描述:【無錫冠亞】半導(dǎo)體高低溫測試設(shè)備,應(yīng)用于對玻璃反應(yīng)釜、金屬反應(yīng)釜、生物反應(yīng)器進(jìn)行升降溫、恒溫控制,尤其適合在反應(yīng)過程中有需熱、放熱過程控制。解決化學(xué)醫(yī)藥工業(yè)用準(zhǔn)確控溫的特殊裝置,用以滿足間歇反應(yīng)器溫度控制或持續(xù)不斷的工藝進(jìn)程的加熱及冷卻、恒溫系統(tǒng)。

    • 產(chǎn)品型號:SUNDI-320
    • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    • 更新時間:2024-01-09
    • 訪  問  量:624
    詳情介紹
    品牌LNEYA/無錫冠亞價格區(qū)間5萬-10萬
    產(chǎn)地類別國產(chǎn)應(yīng)用領(lǐng)域醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),石油,航天


    無錫冠亞冷熱一體機典型應(yīng)用于:

    高壓反應(yīng)釜冷熱源動態(tài)恒溫控制、雙層玻璃反應(yīng)釜冷熱源動態(tài)恒溫控制、

    雙層反應(yīng)釜冷熱源動態(tài)恒溫控制、微通道反應(yīng)器冷熱源恒溫控制;

    小型恒溫控制系統(tǒng)、蒸飽系統(tǒng)控溫、材料低溫高溫老化測試、

    組合化學(xué)冷源熱源恒溫控制、半導(dǎo)體設(shè)備冷卻加熱、真空室制冷加熱恒溫控制。



    型號SUNDI-320SUNDI-420WSUNDI-430W
    介質(zhì)溫度范圍-30℃~180℃-40℃~180℃-40℃~200℃
    控制系統(tǒng)前饋PID ,無模型自建樹算法,PLC控制器
    溫控模式選擇物料溫度控制與設(shè)備出口溫度控制模式 可自由選擇
    溫差控制設(shè)備出口溫度與反應(yīng)物料溫度的溫差可控制、可設(shè)定
    程序編輯可編制5條程序,每條程序可編制40段步驟
    通信協(xié)議MODBUS RTU 協(xié)議 RS 485接口
    物料溫度反饋PT100
    溫度反饋設(shè)備溫度、設(shè)備出口溫度、反應(yīng)器物料溫度(外接溫度傳感器)三點溫度
    導(dǎo)熱介質(zhì)溫控精度±0.5℃
    反應(yīng)物料溫控精度±1℃
    加熱功率2KW2KW3KW
    制冷能力180℃1.5kW1.8kW3kW
    50℃1.5kW1.8kW3kW
    0℃1.5kW1.8kW3kW
    -5℃0.9kW1.2kW2kW
    -20℃0.6kW1kW1.5kW
    -35℃
    0.3kW0.5kW
    循環(huán)泵流量、壓力max10L/min  
    0.8bar
    max10L/min  
    0.8bar
    max20L/min  
    2bar
    壓縮機 海立/泰康/思科普
    膨脹閥丹佛斯/艾默生熱力膨脹閥
    蒸發(fā)器丹佛斯/高力板式換熱器
    操作面板7英寸彩色觸摸屏,溫度曲線顯示、記錄
    安全防護(hù)具有自我診斷功能;冷凍機過載保護(hù);高壓壓力開關(guān),過載繼電器、熱保護(hù)裝置等多種安全保障功能。
    密閉循環(huán)系統(tǒng)整個系統(tǒng)為全密閉系統(tǒng),高溫時不會有油霧、低溫不吸收空氣中水份,系統(tǒng)在運行中不會因為高溫使壓力上升,低溫自動補充導(dǎo)熱介質(zhì)。
    制冷劑R-404A/R507C
    接口尺寸G1/2G1/2G1/2
    水冷型 W
    溫度 20度

    450L/H
    1.5bar~4bar
    G3/8
    550L/H
    1.5bar~4bar
    G3/8
    外型尺寸 cm45*65*8745*65*8745*65*120
    正壓防爆尺寸
    70*75*121.570*75*121.5
    標(biāo)配重量55kg55kg85kg
    電源AC 220V 50HZ 2.9kW(max)AC 220V 50HZ 3.3kW(max)AC380V 50HZ 4.5kW(max)
    外殼材質(zhì)SUS 304SUS 304SUS 304
    選配
    正壓防爆  后綴加PEX
    選配可選配以太網(wǎng)接口,配置電腦操作軟件
    選配選配外置觸摸屏控制器,通信線距離10M
    選配電源100V 50HZ單相,110V 60HZ 單相,230V 60HZ 單相, 220V 60HZ 三相,440V~460V 60HZ 三相





    半導(dǎo)體高低溫測試設(shè)備

    半導(dǎo)體高低溫測試設(shè)備

    半導(dǎo)體高低溫測試設(shè)備應(yīng)用于半導(dǎo)體、芯片等元器件在-85~200℃的范圍內(nèi)進(jìn)行不同溫度段的溫度測試。

      一、半導(dǎo)體高低溫測試設(shè)備背景

      在元器件行業(yè)中,對各種半導(dǎo)體、芯片的要求比較高,特別需要測試在不同環(huán)境下元器件的性能狀況以及在封裝組裝生產(chǎn)下不同的溫度測試以及其他性能測試,以免在元器件這類的電子產(chǎn)品在進(jìn)入生產(chǎn)之后實際投放市場面對各種不同尋常的環(huán)境導(dǎo)致電子元器件不可用。

      二、半導(dǎo)體高低溫測試設(shè)備的作用

      半導(dǎo)體高低溫測試設(shè)備在元器件、集成電路、模塊、PCB、裝配等應(yīng)用上進(jìn)行高低溫循環(huán)測試、高低溫溫度沖擊測試,失效分析等可靠性測試。除了半導(dǎo)體高低溫測試設(shè)備還可稱為熱流儀、冷熱氣流沖擊機、冷熱循環(huán)沖擊裝置、高低溫氣流循環(huán)系統(tǒng)等。

      半導(dǎo)體高低溫測試設(shè)備主要用于高低溫溫度測試模擬,一般溫度要求是低溫-45到高溫150度,測試元器件在高溫高壓的氣候條件下性能測試,通過高低溫測試再進(jìn)行判別設(shè)備的性能是否達(dá)到使用要求,以便元器的檢測以及出廠。

      三、半導(dǎo)體高低溫測試設(shè)備應(yīng)用:

      1、芯片的溫度沖擊和溫度循環(huán)測試;

      2、芯片的高低溫循環(huán)測試,疲勞失效測試;

      3、芯片、模塊、集成電路、電子元器件等性能測試;

      4、對設(shè)計的驗證;

      5、失效分析;

      6、可靠性分析;

      7、對芯片封裝的溫度控制;

      8、電子元器件耐溫及失效進(jìn)行測試和分析


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