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    半導體芯片高低溫測試的相關(guān)知識普及

    簡(jiǎn)要描述:無(wú)錫冠亞射流式高低溫沖擊測試機給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供快速的環(huán)境溫度。是對產(chǎn)品電性能測試、失效分析、可靠性評估*的儀器設備。廣泛應用于半導體企業(yè)、航空航天、光通訊、高校、研究所等領(lǐng)域。半導體芯片高低溫測試的相關(guān)知識普及

    • 產(chǎn)品型號:AES-4535
    • 廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家
    • 更新時(shí)間:2024-01-06
    • 訪(fǎng)  問(wèn)  量:529
    詳情介紹
    品牌LNEYA/無(wú)錫冠亞價(jià)格區間5萬(wàn)-10萬(wàn)
    產(chǎn)地類(lèi)別國產(chǎn)應用領(lǐng)域醫療衛生,化工,生物產(chǎn)業(yè),石油,航天

    <strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong>IC芯片溫度沖擊測試機清潔保養</strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong>

    無(wú)錫冠亞射流式高低溫沖擊測試機

    給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供快速的環(huán)境溫度。

    是對產(chǎn)品電性能測試、失效分析、可靠性評估*的儀器設備。

    廣泛應用于半導體企業(yè)、航空航天、光通訊、高校、研究所等領(lǐng)域。

     

     

     型號AES-4535
     AES-4535W
    AES-6035
     AES-6035W
    AES-8035
     AES-8035W
    AES-A1035WAES-A1235W
    溫度范圍-45℃~225℃-60℃~225℃-80℃~225℃-100℃~225℃-120℃~225℃
    加熱功率3.5kW3.5kW3.5kW4.5kW4.5kW
    制冷量AT -45℃2.5kW    
    AT -60℃ 2kW   
    AT -80℃  1.5kW  
    AT -100℃   1.2kW 
    AT -120℃    1.2kW
    溫控精度±1℃±1℃±1℃±1℃±1℃
    溫度轉換時(shí)間-25℃ to 150℃ 約10S
    150℃to  -25℃
    約20s
    -45℃ to 150℃ 約10S
    150℃to  -45℃
    約20s
    -55℃ to 150℃ 約10S
    150℃to  -55℃
    約15s
    -70℃ to 150℃ 約10S
    150℃to  -70℃
    約20s
    -80℃ to 150℃ 約11S
    150℃to  -80℃
    約20s
    空氣要求空氣濾清器<5um
    空氣含油量:<0.1ppm
    空氣溫濕度:5℃~32℃  0~50%RH
    空氣處理能力7m³/h ~ 25m³/h  壓力5bar~7.6bar
    系統壓力顯示制冷系統壓力采用指針式壓力表實(shí)現(高壓、低壓)
    循環(huán)系統壓力采用壓力傳感器檢測顯示在觸摸屏上
    控制器西門(mén)子PLC,模糊PID控制算法
    溫度控制控制出風(fēng)口溫度
    可編程可編制10條程序,每條程序可編制10段步驟
    通信協(xié)議以太網(wǎng)接口TCP/IP協(xié)議
    設備內部溫度反饋設備出口溫度、制冷系統冷凝溫度、環(huán)境溫度、壓縮機吸氣溫度、冷卻水溫度(水冷設備有)
    溫度反饋T型溫度傳感器
    壓縮機法國泰康法國泰康法國泰康意大利都凌意大利都凌
    蒸發(fā)器套管式換熱器
    加熱器法蘭式桶狀加熱器
    制冷附件丹佛斯/艾默生配件(干燥過(guò)濾器、油分離器、高低壓保護器、膨脹閥、電磁閥)
    操作面板無(wú)錫冠亞定制7英寸彩色觸摸屏,溫度曲線(xiàn)顯示EXCEL 數據導出
    安全防護具有自我診斷功能;相序斷相保護器、冷凍機過(guò)載保護;高壓壓力開(kāi)關(guān),過(guò)載繼電器、熱保護裝置等多種安全保障功能。
    制冷劑冠亞混合制冷劑
    外接保溫軟管方便外送保溫軟管1.8m DN32快接卡箍
    外型尺寸(風(fēng))cm45*85*13055*95*17070*100*17580*120*185100*150*185
    外型尺寸(水)cm45*85*13045*85*13055*95*17070*100*17580*120*185
    風(fēng)冷型采用銅管鋁翅片冷凝方式,上出風(fēng)型式,冷凝風(fēng)機采用德國EBM軸流風(fēng)機
    水冷型 W帶W型號為水冷型
    水冷冷凝器套管式換熱器(帕麗斯/沈氏 )
    冷卻水量 at 25℃0.6m³/h1.5m³/h2.6m³/h3.6m³/h7m³/h
    電源 380V 50HZ4.5kW max6.8kW max9.2kW max12.5kW max16.5kW max
    電源可定制460V 60HZ、220V 60HZ 三相
    外殼材質(zhì)冷軋板噴塑 (標準顏色7035)
    溫度擴展高溫到 +300℃

     

     

    <strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong>IC芯片溫度沖擊測試機清潔保養</strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong>IC芯片溫度沖擊測試機清潔保養</strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong>IC芯片溫度沖擊測試機清潔保養</strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong>IC芯片溫度沖擊測試機清潔保養</strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong> 

    半導體芯片高低溫測試的相關(guān)知識普及

    半導體芯片高低溫測試的相關(guān)知識普及

      半導體芯片高低溫測試是金屬、元器件、電子等材料行業(yè)*的測試設備,用于測試材料結構或復合材料,在瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續環(huán)境下忍受的程度,得以在短時(shí)間內檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。

      半導體芯片高低溫測試具有簡(jiǎn)單便利的操作性能和可靠的設備性能,半導體芯片高低溫測試適用范圍廣泛,可用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車(chē)配件、金屬、化學(xué)材料等行業(yè),國防工業(yè)、航天、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化。

      半導體芯片高低溫測試需要特別注意,在使用的過(guò)程中不能輕易打開(kāi)半導體芯片高低溫測試,主要原因如下:

      半導體芯片高低溫測試是模擬環(huán)境的試驗箱,在使用時(shí),試驗箱內可能會(huì )有各種端的環(huán)境,例如低溫、高溫高壓、高溫高濕等特殊條件。

      如果試驗箱中正在進(jìn)行-70℃的低溫測試,這個(gè)時(shí)候打開(kāi)試驗箱門(mén),先寒冷的氣流會(huì )溢出試驗箱,如果我們的手指沒(méi)有做任何防護觸摸到試驗箱壁貨樣品上,會(huì )瞬間凍傷,凍傷部位的肌肉組織甚至會(huì )壞死。另外在低溫的情況下打開(kāi)試驗箱門(mén)可能會(huì )造成蒸發(fā)器結霜,會(huì )影響降溫速度,甚至有可能會(huì )造成壓縮機損壞等問(wèn)題。

      如果試驗箱中正在進(jìn)行高溫150℃的測試時(shí)打開(kāi)試驗箱門(mén),高溫氣體會(huì )瞬間沖出試驗箱,如果沒(méi)有做好相關(guān)防護,很有可能會(huì )燙傷我們的面部,如果試驗箱旁有燃點(diǎn)低的可燃物,甚至可能會(huì )引起起火。

      如果是其他環(huán)境試驗設備時(shí),比如恒溫恒濕試驗箱在進(jìn)行高溫高濕試驗箱時(shí),儀器內的壓力和蒸汽會(huì )非常大,如果在此時(shí)打開(kāi)試驗箱門(mén),也會(huì )有高溫高濕的蒸汽沖出試驗箱,也有可能會(huì )對操作人員造成嚴重的燙傷。

    所以,在半導體芯片高低溫測試運行中途,若沒(méi)有非常必要打開(kāi)試驗箱門(mén),請勿打開(kāi)試驗線(xiàn)門(mén),如果要使用中途打開(kāi)試驗箱門(mén),那么請一定做好相關(guān)的防護措施,用正確的方法打開(kāi)試驗箱門(mén)。

     

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