無(wú)錫冠亞射流式高低溫沖擊測試機

給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供快速的環(huán)境溫度。

是對產(chǎn)品電性能測試、失效分析、可靠性評估*的儀器設備。

廣泛應用于半導體企業(yè)、航空航天、光通訊、高校、研究所等領(lǐng)域。

高低溫循環(huán)測試系統注意事項

高低溫循環(huán)測試系統注意事項

　　高低溫循環(huán)測試系統電源使用三相四線(xiàn)制，設備電纜為四芯線(xiàn)，三根相線(xiàn)，一根零線(xiàn)。請注意零線(xiàn)區分。因設備部分負載和控制系統為單相，接錯零線(xiàn)將會(huì )導致設備不工作和損壞。本高低溫循環(huán)測試系統設備接地線(xiàn)有接地線(xiàn)柱，確保設備良好接地可使設備安全可靠。零線(xiàn)、地線(xiàn)接錯將會(huì )導致設備非正常工作。因用戶(hù)場(chǎng)地等因素需延長(cháng)電纜，請確保所用延長(cháng)線(xiàn)和電源的額定參數可滿(mǎn)足產(chǎn)品的電源需求。

　　本高低溫循環(huán)測試系統設備使用過(guò)程中會(huì )產(chǎn)生大量熱量。請將設備按照在通風(fēng)良好的地方。請勿靠近易燃材料或易爆環(huán)境中使用本設備。請勿在強磁場(chǎng)和強烈振動(dòng)環(huán)境中使用。

　　請勿將試品電源接入高低溫循環(huán)測試系統設備電源中，否則會(huì )增加設備電源負荷。除非設備留有試品電源接口。嚴禁試驗易燃、易爆、高腐蝕、強輻射物品。

　　設備通電狀態(tài)下或運行過(guò)程中請勿搬運、檢修。高溫箱內溫度很高。試驗過(guò)程中或測試剛結束時(shí)，如需打開(kāi)箱，開(kāi)門(mén)要特別小心，切記，順著(zhù)們開(kāi)啟的方向行走，以免燙傷。

低溫箱內溫度很低。試驗過(guò)程中或試驗剛結束時(shí)，如需打開(kāi)箱門(mén)要特別小心，以免凍傷。觸電，雖然設備具有健全的防觸電措施，但是仍然需要注意，尤其是電器控制系統，工作情況下，切勿觸摸電器部分。