半導體芯片調試控溫高低溫一體設備

半導體芯片調試控溫高低溫一體設備

半導體芯片調試控溫高低溫一體設備

　　無(wú)錫冠亞微流控芯片測溫系統是無(wú)錫冠亞自主研發(fā)生產(chǎn)的設備，結合以往制冷加熱控溫的經(jīng)驗，生產(chǎn)符合微流控芯片測試的設備，適合微流控芯片行業(yè)需求。

　　對于智能化微流控芯片測溫系統的定義雖有不同的解釋和理解，但采用計算機輔助測試（CAT）技術(shù)已成為測量?jì)x器發(fā)展的必然趨勢。不論采用單片機、單板機、敞視或主用通用微機，計算機在測量?jì)x器中充當了越來(lái)越重要的角色，發(fā)揮著(zhù)越來(lái)越大的作用。單片機、單板機的簡(jiǎn)單測試系統這類(lèi)系統將單片機或單板機裝入測量?jì)x器，用于控制、管理和協(xié)調測量?jì)x器各部分硬件的工作。通常成本較低，由于大多采用匯編語(yǔ)言編程，一般也具有較快的測試速度。有的系統配有簡(jiǎn)單的外設接口，例如可用打印機輸出測試、數據，有的還配有鍵盤(pán)和顯示器，可完成簡(jiǎn)單的人機交互。微流控芯片測溫系統難于得到功能強大的軟件包的支持。有的系統采用修改系統數據區完成對測試對象的編程，這使得非專(zhuān)業(yè)編程人員難于完成編程工作。這類(lèi)系統比較適合于電子元器件生產(chǎn)線(xiàn)上的固定測試要求的大批測試。

芯片高低溫測試機應用說(shuō)明

　　無(wú)錫冠亞芯片高低溫測試機是針對電子元器件行業(yè)測試所推出的，那么，這類(lèi)芯片高低溫測試機適用于那些行業(yè)呢？

　　經(jīng)過(guò)無(wú)錫冠亞的努力，其開(kāi)發(fā)生產(chǎn)的芯片高低溫測試機TES-4525、TES-4525W、TES-4555、TES-4555W、TES-45A10、TES-45A10W、TES-45A15、TES-45A25W、TES-45A25、TES-45A25W等型號可以用于中小規模數字集成電路邏輯功能及靜態(tài)直流參數測試，在微弱電流測試方面有良好的特性；用于二管、三管、VMOS、光電搞合器、可控硅等各種半導體分立器件進(jìn)行參數測試，測試原理符合國標及軍標要求，功率參數采用300uS脈沖測試，并采用數據、圖形雙重顯示。用于普通、化、時(shí)間等各類(lèi)電磁繼電器參數的測試，在觸點(diǎn)接觸電阻和時(shí)間參數的測試方面有良好的特性，被我國國軍標電磁繼電器生產(chǎn)線(xiàn)選用。