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    冠亞—恒溫制冷加熱控溫循環(huán)設備

    簡(jiǎn)要描述:冠亞—恒溫制冷加熱控溫循環(huán)設備當您發(fā)現漏冷媒部分浸于水中,請立即停止低溫設備運行,速將水箱內水排除,盡快通知公司派員維修,以免壓縮機將水吸入系統造成更嚴重的損壞。制冷系統四大部件除了壓縮機,剩下Z為重要的就是蒸發(fā)器和冷凝器,蒸發(fā)器和冷凝器分別起到吸熱和放熱的作用,充足而適宜的換熱量可以充分發(fā)揮壓縮機的效率。

    • 產(chǎn)品型號:SUNDI -6A25
    • 廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家
    • 更新時(shí)間:2023-12-26
    • 訪(fǎng)  問(wèn)  量:706
    詳情介紹
    品牌LNEYA/無(wú)錫冠亞產(chǎn)地類(lèi)別國產(chǎn)
    應用領(lǐng)域化工,石油,能源


    無(wú)錫冠亞恒溫制冷技術(shù)有限公司致力于制冷加熱控溫系統、

    超低溫冷凍機、

    新能源汽車(chē)部件測試系統、

    VOCs冷凝回收裝置、

    加熱循環(huán)系統、

    防爆電氣設備、

    試驗設備、

    工業(yè)超低溫冷凍室的研發(fā)、生產(chǎn)和銷(xiāo)售。




    冠亞—恒溫制冷加熱控溫循環(huán)設備

    冠亞—恒溫制冷加熱控溫循環(huán)設備

    一、半導體高低溫測試設備背景

    半導體高低溫測試設備應用于半導體、芯片等元器件在-85~200℃的范圍內進(jìn)行不同溫度段的溫度測試。


      在元器件行業(yè)中,對各種半導體、芯片的要求比較高,特別需要測試在不同環(huán)境下元器件的性能狀況以及在封裝組裝生產(chǎn)下不同的溫度測試以及其他性能測試,以免在元器件這類(lèi)的電子產(chǎn)品在進(jìn)入生產(chǎn)之后實(shí)際投放市場(chǎng)面對各種不同尋常的環(huán)境導致電子元器件不可用。

      二、半導體高低溫測試設備的作用

      半導體高低溫測試設備在元器件、集成電路、模塊、PCB、裝配等應用上進(jìn)行高低溫循環(huán)測試、高低溫溫度沖擊測試,失效分析等可靠性測試。除了半導體高低溫測試設備還可稱(chēng)為熱流儀、冷熱氣流沖擊機、冷熱循環(huán)沖擊裝置、高低溫氣流循環(huán)系統等。

    半導體高低溫測試設備應用于半導體、芯片等元器件在-85~200℃的范圍內進(jìn)行不同溫度段的溫度測試。

    半導體高低溫測試設備應用于半導體、芯片等元器件在-85~200℃的范圍內進(jìn)行不同溫度段的溫度測試。


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