微處理器芯片測試裝置chiller適用于航空航天、電工電子、儀器儀表、材料設備、零部配件等模擬試件在周?chē)髿鉁囟燃眲∽兓瘲l件下的適應性試驗及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品研發(fā)等，同時(shí)可通過(guò)此試驗，進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制及新產(chǎn)品的研制等。

　　一、微處理器芯片測試裝置chiller工作原理：

　　試驗機輸出氣流將被測試品罩住，形成一個(gè)較密閉空間的測試腔，試驗機輸出的高溫或低溫氣流，使被測試品表面溫度發(fā)生劇烈變化，從而完成相應的高低溫沖擊試驗。

　　二、對比傳統溫箱，微處理器芯片測試裝置chiller特點(diǎn)：

　　1、高低溫溫度范圍在-85~250°C，控溫精度±0.5°C。

　　2、采用氣動(dòng)控制，轉換時(shí)間短，溫變速度快，設備整體結構緊湊，體積小，提高了工作室的溫度均勻性。

　　3、微處理器芯片測試裝置chiller升降速率非?？焖?，升降溫時(shí)間可控，程序化操作、手動(dòng)操作、遠程控制。

　　4、超大觸摸屏操作，外觀(guān)簡(jiǎn)潔大方，操作簡(jiǎn)單方便，設定值實(shí)際值實(shí)時(shí)顯示；

5、測試條件：環(huán)境溫度20°C，10~30m3/h，5~7Bar，干燥壓縮空氣或者氮氣。