芯片高低溫老化測試箱的所有運行進(jìn)程都是有控制器輸入完成的，如果控制器出現故障，會(huì )造成試驗失敗，嚴重的還會(huì )出現設備損壞，所以就芯片高低溫老化測試箱控制器有可能出現的四種故障我們需要有一定的了解。

　　分析溫度控制儀表系統故障時(shí)，要注意兩點(diǎn)：該系統儀表多采用電動(dòng)儀表測量、指示、控制；該系統儀表的測量往往滯后較大。

　　溫度控制儀表系統指示出現快速振蕩現象，多為控制參數PID調整不當造成。溫度儀表系統的指示值突然變到或小，一般為儀表系統故障。因為溫度儀表系統測量滯后較大，不會(huì )發(fā)生突然變化。此時(shí)的故障原因多是熱電偶、熱電阻、補償導線(xiàn)斷線(xiàn)或變送器放大器失靈造成。

　　溫度控制系統本身的故障分析步驟：檢查調節閥輸入信號是否變化，輸入信號不變化，調節閥動(dòng)作，調節閥膜頭膜片漏了；檢查調節閥定位器輸入信號是否變化，輸入信號不變化，輸出信號變化，定位器有故障；檢查定位器輸入信號有變化，再查調節器輸出有無(wú)變化，如果調節器輸入不變化，輸出變化，此時(shí)是調節器本身的故障。

　　溫度控制儀表系統指示出現大幅緩慢的波動(dòng)，很可能是由于工藝操作變化引起的，如當時(shí)工藝操作沒(méi)有變化，則很可能是儀表控制系統本身的故障。