ic測試設備廠(chǎng)家在進(jìn)行項目測試的時(shí)候需要注意其測試流程，用戶(hù)通過(guò)詳細的了解才能使得ic測試設備更加的運行。

　　ic測試設備在芯片內是由專(zhuān)屬電路負責的，這部分電路的搭建由DFT工程師來(lái)做，在流片后，DFT工程師還要生成配套輸入矢量，一般會(huì )生成幾萬(wàn)個(gè)。這些矢量是否能夠正常的檢測芯片的功能，需要產(chǎn)品開(kāi)發(fā)工程師來(lái)保證。此外還需要測試工程師，產(chǎn)品工程師，和助手來(lái)一同保證每天能夠完成幾萬(wàn)片芯片的生產(chǎn)任務(wù)不會(huì )因為測試邏輯故障而延遲。

　　ic測試設備廠(chǎng)家接到客戶(hù)的芯片資料，通常是正在開(kāi)發(fā)的芯片，資料嚴格保密，有時(shí)候芯片還在開(kāi)發(fā)階段就會(huì )開(kāi)始聯(lián)系合作的測試公司開(kāi)始準備測試項目，以縮短整個(gè)開(kāi)發(fā)周期。根據芯片資料設計測試方案，這個(gè)過(guò)程經(jīng)常會(huì )有芯片功能或者邏輯不明確的地方，所以需要與設計工程師反復溝通確認，根據測試方案需要設計硬件接口電路板，根據測試方案開(kāi)發(fā)軟件程序，如果項目巨大會(huì )分成多個(gè)部分由多名工程師合作完成。接下來(lái)，就開(kāi)始在ic測試設備上進(jìn)行調試，一般是在測試公司下進(jìn)行。以上各步驟偶爾會(huì )出現錯誤，就需要不斷調整返回到出現錯誤的地方更正。

　　一旦ic測試設備廠(chǎng)家家運行中出現錯誤操作，就需要用戶(hù)及時(shí)有效的檢查，及時(shí)有效的避免ic測試設備故障。（本文來(lái)源網(wǎng)絡(luò )，如有侵權，請聯(lián)系刪除，謝謝。）