熱循環(huán)檢測是針對元器件高低溫環(huán)境下的檢測工作，那么，關(guān)于無(wú)錫冠亞熱循環(huán)檢測的相關(guān)知識，大家都了解多少呢？

　　熱循環(huán)檢測使用單電源值和封裝的單QJA值計算芯片的高溫度，該溫度值通常過(guò)于樂(lè )觀(guān)，無(wú)法獲知芯片上的熱點(diǎn)效應。熱循環(huán)檢測在沒(méi)有考慮局部溫度變化的情況下估計功率和電壓下降。作為總功率主要組成部分的泄漏功率與溫度呈指數相關(guān)，溫度的少許變化也會(huì )造成泄漏功率很大的變化。這種功率變化還會(huì )使沿著(zhù)電源線(xiàn)的電壓壓降呈顯著(zhù)變化。

　　熱循環(huán)檢測使用以單一均勻芯片溫度為前提的邊界分析工具檢查芯片的時(shí)序性能。10℃以上的溫度差異加上前面所述的壓降變化將導致單元延時(shí)有顯著(zhù)的改變。另外，越來(lái)越明顯的時(shí)延反轉效應還可能使建立時(shí)間分析出現問(wèn)題。熱循環(huán)檢測在沒(méi)有考慮金屬互連沿線(xiàn)的溫度變化情況就作可靠性分析。走線(xiàn)的平均故障時(shí)間與溫度呈指數關(guān)系，可能導致過(guò)于樂(lè )觀(guān)的設計，從而使產(chǎn)品在現場(chǎng)過(guò)早地出現故障。熱循環(huán)檢測在沒(méi)有檢查芯片上熱點(diǎn)的存在和數量情況下就設計芯片封裝，熱點(diǎn)會(huì )嚴重影響冷卻材料的效率，從而導致器件上出現過(guò)高的工作溫度。

　　熱循環(huán)檢測的相關(guān)知識，用戶(hù)在使用之前還是需要了解清楚的，如果不了解清楚的話(huà)可能導致熱循環(huán)檢測在一定運行工作下出現一定的故障。（本文來(lái)源網(wǎng)絡(luò )，如有侵權，請聯(lián)系刪除，謝謝。）