微流體芯片測試是芯片開(kāi)發(fā)以及生產(chǎn)過(guò)程中比較重要的一項設備，那么無(wú)錫冠亞微流體芯片測試的運行原理大家了解多少呢？

　　微流體芯片測試利用基于數字信號處理的測試技術(shù)來(lái)測試，微流體芯片測試能并行地進(jìn)行參數測試，所以能減少測試時(shí)間，能把各個(gè)頻率的信號分量區分開(kāi)來(lái)（也就是能把噪聲和失真從測試頻率或者其它頻率分量中分離出來(lái)），所以能增加測試的精度和可重復性。

　　微流體芯片測試采樣用于把信號從連續信號（模擬信號）轉換到離散信號（數字信號），重建用于實(shí)現相反的過(guò)程。自動(dòng)測試設備（ATE）依靠采樣和重建給待測芯片（DUT）施加信號或者測量它們的響應。測試中包含了數學(xué)上的和物理上的采樣和重建。

　　微流體芯片測試模擬開(kāi)關(guān)，它的晶體管電阻隨著(zhù)數字信號變化；可編程增益放大器，能用數字信號調節輸入信號的放大倍數；數模轉換電路（D/AsorDACs）；模數轉換電路（A/DsorADCs）；鎖相環(huán)電路（PLLs），常用于生成高頻基準時(shí)鐘或者從異步數據中恢復同步時(shí)鐘。

　　微流體芯片測試每個(gè)電源管腳消耗的電流是發(fā)現芯片是否存在災難性缺陷的方法之一。每個(gè)電源管腳被設置為預定的電壓，接下來(lái)用自動(dòng)測試設備的參數測量單元測量這些電源管腳上的電流。這些測試一般在測試程序的開(kāi)始進(jìn)行，以快速有效地選出那些*失效的芯片，電源測試也用于保證芯片的功耗能滿(mǎn)足終端應用的要求。

　　用戶(hù)可對微流體芯片測試原理了解清楚之后再進(jìn)行微流體芯片測試的選型工作，如果微流體芯片測試不會(huì )選擇，可以聯(lián)系微流體芯片測試廠(chǎng)家無(wú)錫冠亞進(jìn)行選擇。（注：本來(lái)部分內容來(lái)百度學(xué)術(shù)相關(guān)論文，如果侵權，請及時(shí)聯(lián)系我們進(jìn)行刪除，謝謝。）